Alexander Dräbenstedt

Hochauflösende Spektroskopie und Mikroskopie einzelner Moleküle und Farbzentren bei tiefen Temperaturen

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Kurzfassung in Deutsch

In dieser Arbeit wird der Aufbau eines Raumtemperatur-Nahfeldmikroskopes und die Implementation eines neuen nichtoptischen Abstandsregelmechanismus beschrieben und die Ergebnisse verschiedener Abbildungsarten dargestellt.
Eine theoretische Modellierung des Scherkraft-Detektionsmechanismus erlaubt ein gezieltes Design fuer eine Nachnutzung. Der Aufbau eines Tieftemperatur-Konfokalmikroskopes, das zum Tieftemperatur-Nahfeldmikroskop erweiterbar ist, wird dargelegt. Die Abhaengigkeit des Photobleichens einzelner Terrylen-Molekuele von der Temperatur wird untersucht.
Beobachtungen der spektralen Diffusion von Terrylen-Molekuelen werden dargelegt.
Den Hauptteil dieser Arbeit bilden Untersuchungen am N-V Farbzentrum im Diamant.
Einzelne Defektzentren wurden bei tiefen Temperaturen abgebildet und
mittels Fluoreszenz-Anregungsspektroskopie untersucht, die Fluoreszenz-Emissionsdynamik wurde mit Autokorrelationsmessungen studiert. Das Temperaturverhalten der Fluoreszenzintensitaet, die Autokorrelation der Fluoreszenzintensitaet und die verzoegerte Fluoreszenz beweisen die Existenz eines metastabilen Zustandes.
Durch Einstrahlen einer zweiten Wellenlaenge verkuerzt sich die Verweilzeit im metastabilen Zustand und die mittlere Fluoreszenzrate wird erhoeht (Deshelving).
Die Tieftemperaturspektren widersprechen in mehreren Punkten den aus der Literatur bekannten Werten, die an hoeherkonzentrierten Proben gemessen wurden.
Diese Unterschiede werden diskutiert und sind mit einer in hoeherkonzentrierten Proben verstaerkten Verspannung zu erklaeren. Ein Vergleich mit Diamant-Nanokristalliten, in denen eine erhoehte Verspannung auftritt, bestaetigt den Zusammenhang zwischen schmalen Uebergaengen und wirkender Verspannung durch das Auftreten von schmalen Emissionslinien.

weitere Metadaten

Schlagwörter
Einzelmolekül
Schlagwörter
N-V Zentrum
Schlagwörter
Deshelving
Schlagwörter
konfokale Mikroskopie
Schlagwörter
Nahfeldmikroskopie
Schlagwörter
Scherkraft-Abstandsregelung
Schlagwörter
Photobleichen
Schlagwörter
spektrale Diffusion
SWD SchlagworteDiamant
SWD SchlagworteAbstandsregelung
SWD SchlagworteLaser-Rastermikroskopie
SWD SchlagworteFluoreszenzspektroskopie
SWD SchlagworteFremdstörstelle
SWD SchlagworteOptische Nahfeldmikroskopie
SWD SchlagworteTieftemperaturspektroskopie
SWD SchlagworteTerrylen
SWD SchlagworteSpektroskopie
DDC Klassifikation530
DDC Klassifikation540
Institution(en) 
HochschuleTU Chemnitz
FakultätFakultät für Naturwissenschaften
DokumententypDissertation
SpracheDeutsch
Tag d. Einreichung (bei der Fakultät)05.08.1999
Tag d. Verteidigung / Kolloquiums / Prüfung11.06.1999
Veröffentlichungsdatum (online)05.08.1999
persistente URNurn:nbn:de:bsz:ch1-199900459

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