Dipl.-Ing. Hendrik Specht

MEMS-Laser-Display-System

Analyse, Implementierung und Testverfahrenentwicklung

Analysis, Implementation and Test Procedure Development

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Kurzfassung in Deutsch

In der vorliegenden Arbeit werden die im Zusammenhang mit der Strahlablenkung stehenden Systemaspekte der auf MEMS-Scanner basierenden Laser-Display-Technologie theoretisch analysiert und aus den Ergebnissen die praktische Implementierung eines Laser-Display-Systems als Testplattform vorgenommen. Dabei werden mit einem Ansatz auf Basis zweier 1D-Scanner und einem weiteren Ansatz mit einem 2D-Scanner zwei Varianten realisiert. Darüber hinaus erfolgt die Entwicklung eines bildbasierten Multiparametertestverfahrens, welches sowohl für den Test komplettierter Strahlablenkeinheiten bzw. Projektionsmodule als auch zum umfassenden und zeiteffizienten Test von MEMS-Scannern auf Wafer-Level geeignet ist. Mit diesem Verfahren erfolgt eine Charakterisierung der zwei realisierten Varianten des Laser-Displays.
Ausgehend von den Eigenschaften des menschlichen visuellen Systems und den daraus resultierenden Anforderungen an das Bild sowie einer systemtheoretischen Betrachtung des mechanischen Verhaltens von MEMS-Scannern bildet die Ansteuersignalerzeugung für den resonanten Betrieb der schnellen und den quasistatischen Betrieb der langsamen Achse einen Schwerpunkt. Neben dem reinen digitalen Regler- bzw. Filterentwurf sowie mehreren Linearisierungsmaßnahmen beinhaltet dieser auch die Herleitung einer FPGA-basierten Videosignalverarbeitung zur Konvertierung von Scannpattern, Zeitregime und Auflösung mit einer entsprechenden Synchronisierung von Strahlablenkung und Lasermodulation. Auf Grundlage der daraus resultierenden Erkenntnisse über den Zusammenhang zwischen Scanner-/Systemparametern und Bildparametern werden Testbild-Bildverarbeitungsalgorithmus-Kombinationen entwickelt und diese, angeordnet in einer Sequenz, mit einem Kalibrierverfahren zu einem Testverfahren für MEMS-Scanner vervollständigt.
Die Ergebnisse dieser Arbeit entstanden im Rahmen von industriell beauftragten F&E-Projekten und fließen in die andauernde Fortführung des Themas beim Auftraggeber ein.

weitere Metadaten

übersetzter Titel
(Englisch)
MEMS Laser Display System
Schlagwörter
(Deutsch)
Laserdisplay, Mikrospiegel, MOEMS, Videosignalverarbeitung, Scannpattern, Rasterscann, Lissajous, Positionsregelung, FIR-Filter, IIR-Filter, resonanter Betrieb, quasistatischer Betrieb, Testverfahren, Wafer-Level
Schlagwörter
(Englisch)
laser display, micro mirror, MEMS, MOEMS, image quality, resolution, distortion, linearity, video processing, scaling, scan pattern, line scan, Lissajous, system model, position control, phase locked loop, FIR, IIR, filter, resonant drive, quasi-static drive, wafer level test, image processing
SWD SchlagworteMEMS, Bildqualität, Auflösung, Verzeichnung, Linearität, Skalierung, Systemmodell, Phasenregelung, Nichtrekursives Filter, Rekursivfilter, Test, Bildverarbeitung
DDC Klassifikation003
DDC Klassifikation620
DDC Klassifikation629
Institution(en) 
HochschuleTU Chemnitz
FakultätFakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
ProfessurMikrotechnologien
InstitutionUniversitätsverlag der Technischen Universität Chemnitz
BetreuerProf. Dr. Dr. Prof. h.c. mult. Thomas Geßner
GutachterProf. Dr. Dr. Prof. h.c. mult. Thomas Geßner
Prof. Dr. rer. nat. Helmut Seidel
DokumententypDissertation
SpracheDeutsch
Tag d. Einreichung (bei der Fakultät)09.11.2010
Tag d. Verteidigung / Kolloquiums / Prüfung20.05.2011
Veröffentlichungsdatum (online)19.10.2011
persistente URNurn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa-71334
ISBN978-3-941003-36-1

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